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湖南科技大学2022年“专升本”招生材料科学与工程专业《材料分析与测试技术》 课程考试大纲
来源：未知 2022-10-29
湖南科技大学2022年“专升本”招生材料科学与工程专业《材料分析与测试技术》 课程考试大纲
材料科学与工程专业《材料分析与测试技术》
课程考试大纲
一、考试的目的与要求
通过材料分析与测试技术的学习，考察其对 X 射线衍射分析
技术、透射电子显微分析技术、扫描电子显微分析技术、电子探
针显微分析技术的掌握程度；着重观察其对各种分析技术基本原
理及仪器设备结构的熟练程度，使学生具备常用的材料微观结构
分析技术的所必须的基本理论及方法，具备一定的分析问题的能
力和实验能力。
1.掌握 X 射线衍射分析、透射电子显微分析、扫描电子显微
分析、电子探针显微分析的基本理论；
2.掌握各种分析测试技术仪器的基本结构及工作原理；
3.掌握常用分析测试技术对试样的要求及试样的制备方法；
4.具备根据材料的性质等信息确定分析手段的初步能力；
5.具备对检测结果进行标定和分析解释的初步能力。
二、考试知识点及要求
（一）X 射线衍射分析（35%左右）
1.考试知识点：
X 射线的物理学基础、X 射线衍射方向、X 射线衍射强度、
多晶体分析方法、物相分析
2.考试要求：
（1）识记：X 射线的本质；连续 X 射线谱和特征 X 射线谱
的概念及产生机理；X 射线与物质的相互作用；布拉格方程的形
式及各参数的意义；干涉面、干涉指数的概念；晶面指数与干涉
指数的关系；倒易点阵的性质；简单点阵、体心点阵、面心点阵
三种点阵的消光规律；X 射线物相分析中定性分析的基本原理及
基本步骤。
（
2）理解：布拉格方程的推导及应用；结构因数的物理意义
及计算；晶体衍射花样的特点； X 射线衍射仪法；定量分析的原
理及分析方法
（
3）应用：利用布拉格方程求晶面的衍射角；立方点阵结构
因数的计算；K 值法进行定量分析
（二）透射电子显微分析（30%左右）
1.考试知识点：
电子光学基础、透射电子显微镜、电子衍射、晶体薄膜衍衬
成像分析
2.考试要求：
（1）识记：电磁透镜像差及产生的原因；电磁透镜分辨率的
影响因素；电磁透镜的景深和焦长的概念；电磁透镜的景深大、
焦长长的原因；透射电子显微镜的主要组成部分及作用；透镜中
主要光阑的位置及作用；电子衍射与 X 射线衍射的异同；电子衍
射的基本公式；电子衍衬成像的概念；薄膜试样的制备步骤；明
场像、暗场像、中心暗场像的概念及成像时电子束及物镜光阑的
位置。
（
2）理解：透射电镜的成像原理倒易点阵；爱瓦尔德图解；
晶带定理；单晶电子衍射花样的标定方法。
（
3）应用：利用尝试校核法对已知晶体结构衍射花样进行标
定。
（三）扫描电子显微分析技术（20%左右）
1.考试知识点：
电子束与固体样品的相互作用、扫描电子显微镜的构造和工
作原理、扫描电子显微镜的主要功能、表面形貌衬度原理及应用、
原子系数衬度原理及应用。
2.考试要求：
（1）识记：二次电子、被散射电子、特征 X 射线、俄歇电
子的概念及特点；扫描电镜的工作原理；扫描电镜光学系统的结
构；扫描电镜的主要性能指标；二次电子信号的特点；背散射电
子信号的特点；影响扫描电镜分辨率的因素。
（
2）理解：二次电子形貌衬度像的原理及应用、背散射电
子衬度像的原理及应用。
（3）应用：根据样品需要选择合适的信号进行微观结构分
析。
（四）电子探针显微分析（15%左右）
1.考试知识点：
电子探针的结构与工作原理、电子探针的分析方法及应用
2.考试要求：
（1）识记：电子探针的工作原理、电子探针的三种工作方式
（
2）理解：波谱仪及能谱仪的工作原理和优缺点、电子探针
的分析方法。
（
3）应用：根据样品需要选择波谱分析还是能谱分析。
三、试卷结构及主要题型
（一）试卷结构
基本题 70%左右，综合题 20%左右，提高题 10%左右。
（二）主要题型
主要题型有四大题型，可根据具体情况作调整，单项选择题
30% 左右，填空题 25%左右，简答题 30% 左右，计算题 15%左
右。
四、考试方式
采用闭卷考试形式，出一套试题，并附标准答案。
五、试题数量及时间安排
试卷应涵盖教学大纲规定内容的 90%以上，考试时间 120 分
钟。
六、使用教材及主要参考书
（一）使用教材
《材料分析方法》(第 3 版)周玉主编，机械工业出版社
（二）主要参考书
《材料近代分析测试方法》(修订版) 常铁军，刘喜军主编，
哈尔滨工业大学出版社
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